一、簡介

隨著大規模集成電路技術朝著超深亞微米方向發展，芯片內部機構日趨復雜，芯片的集成度已達千兆位，時鐘頻率也已在向千兆赫以上發展，引腳數量也在急劇上升，新的芯片封裝技術如BGA、CSP等被大量采用，同時電路板的層數和布線密度也大大增加，使得外部可接觸的引腳越來越少，整個電子設備的測試和維護也隨之變得愈加復雜，用傳統的線路檢測設備(ICT)和針床測試需要付出很高的代價，有時甚至不可能解決這些問題。測試技術面臨的這些挑戰迫使人們去思考和探索電路可測性的理論或方法。

邊界掃描協議是聯合測試工作組（JTAG：Joint TEST action GROUP）提出了，并于1990 年形成了IEEE 1149.1 工業標準。該標準通過設置在器件輸入輸出引腳與內核電路之間的邊界掃描單元對器件及外圍電路進行測試，從而提高了電路板的可測性。邊界掃描就像一根"虛擬探針"，能夠在不影響電路板正常工作的同時，采集芯片引腳的狀態信息，通過分析這些信息達到故障診斷功能。

博基興業ATE電路板測試系統通過靈活應用JTAG技術，軟件自定義技術和靈活的硬件配置使用戶可自定義測試步驟測試，從而可以對電路板連接性，電壓、電流、電阻和功能信號進行測量和分析，滿足電路板的結構和功能測試需求，從而實現復雜的電路板自動化測試，完全滿足各整機設備廠家生產測試維修的強烈需求，是ATE測試設備的優選方案。

二、系統主要功能特點：

• 基于JTAG 技術的板級互聯測試，測試板子的基礎連接性，能準確的定位短路，開路等故障。
• 靈活的編程功能，可以實現對FLASH,CPLD,FPGA,SPI,I2C等存儲器編程
• 多路可編程數字電源，能產生測試所需要各種電源電壓，可靠的過壓過流自動保護功能，保護客戶目標板及測試系統的**性。
• 系統測試精度高，穩定可靠，并且具有良好的系統擴展性，滿足各種需求。
• 可以滿足電路板組件（PCBA）的互連測試和功能測試（FCT）要求，符合自動化大批量生產的要求。
• 用戶根據自己需要定義測試步驟，能方便產生自動測試序列，操作簡便。
• 產品小巧輕便，不僅可以應用于工廠大批量生產測試，也可以用來做現場維護測試。

三、系統測試資源

系統的主要由大規模FPGA及高速AD/DA，可編程數字電源，JTAG測試控制器，各種CPU的仿真器，及相關控制電路組成。系統的主要測試資源有：

• 可編程數子IO 量 160個（可擴展）支持TTL,LVTTL, LVCMOS.SSTL,HSTL,LVDS等電平。
• 可編程數字時鐘發生器5路，可以輸出各種頻率及電平的時鐘。
• 可編程數字電源4路（0-15V）,負電源2路，-15V, -5V~0V各一路
• 模擬采集通道32路（12bit）0-5V, 4路，14Bit, +10V.
• 模擬輸出通道16路(12bit) 0-5V, 4路12bit, 0-10V.
• 電阻測量通道7路
• JTAG 控制接口12路，其中9路為系統使用，3路為DUT使用。
• RS232(6路)，RS485 4路， CAN 2路 ，USB(3路), SPI 8路 ， I2C 1路
• 以太網交換5路
• 精密電壓電流測量4路，準確測量目標板的運行及功耗狀態。
• 開關控制4路，其中兩路繼電器輸出，兩路MOS開關輸出。
• 電壓監控6路，4路電流監控，4路監控IO輸入，監控開關輸出9路。

四、主要測試服務

• 提供產品可測試性技術設計，咨詢，培訓服務，幫助客戶提高產品測試性及產品質量
• 根據客戶產品特點，提供整套測試方案及測試系統，包括測試夾具及測試軟件等，用于各整機企業或生產企業電子產品大批量自動化生產測試維修。
• 自動化測試信息狀態記錄系統，提供產品測試維修信息統計與分析，幫助客戶不斷改進產品質量，提高產品品質。
• 提供產品售后維修服務，針對客戶各種進口或采購設備提供相應的測試維修方案，保證客戶設備的正常運行。
• 定制化測試服務，可以根據客戶產品測試的需要，定制相應的測試系統。