BSDL邊界掃描描述語(yǔ)言
邊界掃描是一個(gè)完善的測(cè)試技術(shù)。 邊界掃描在自當(dāng)聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組（JTAG）90年代初發(fā)明了一種解決方案來(lái)測(cè)試使用了許多新的印刷電路，正在開(kāi)發(fā)和制造的地方幾乎沒(méi)有或根本沒(méi)有測(cè)試探針板的物理訪問(wèn)。 一旦邊界掃描成立后，下一步是制定一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的芯片供應(yīng)商的模型邊界掃描設(shè)備，工具供應(yīng)商開(kāi)發(fā)自動(dòng)化工具，以及為*終用戶創(chuàng)建的邊界掃描測(cè)試的建模語(yǔ)言。 因此，邊界掃描描述語(yǔ)言（BSDL）已建立。

BSDL是邊界掃描設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)建模語(yǔ)言。 它的語(yǔ)法是一個(gè)VHDL的子集，它符合IEEE 1149.1-2001的規(guī)定。 它是由使用邊界掃描測(cè)試開(kāi)發(fā)人員，設(shè)備模擬器，半導(dǎo)體測(cè)試儀，電路板級(jí)測(cè)試，任何人利用邊界掃描。 使用的的BSDL促進(jìn)整個(gè)電子行業(yè)的一致性。 此外，它使任何邊界掃描中的一個(gè)有用的，可以理解的，一致的方式和設(shè)備的功能規(guī)范。
BSDL走出了邊界掃描測(cè)試哲學(xué)的發(fā)展。 *初的IEEE 1149.1-1990標(biāo)準(zhǔn)的（見(jiàn)[符合IEEE 1149.1（JTAG接口）]）標(biāo)準(zhǔn)描述的邊界掃描并于1990年批準(zhǔn)發(fā)布，并作為結(jié)果，使用邊界掃描技術(shù)開(kāi)始增長(zhǎng)。 該標(biāo)準(zhǔn)的下一次修訂在1993年發(fā)生。 在1994年進(jìn)一步修訂納入了IEEE 1149.1-1994標(biāo)準(zhǔn)的BSDL。
什么是的BSDL？
邊界掃描描述語(yǔ)言使用戶能夠提供的方式，邊界掃描在任何特定的設(shè)備實(shí)施的說(shuō)明。 由于每個(gè)芯片設(shè)計(jì)趨于應(yīng)用邊界掃描方式略有不同標(biāo)準(zhǔn)，這是一個(gè)需要理解的表達(dá)，具體和實(shí)用的方式測(cè)試。是書(shū)面的BSDL在VHDL的子集。 VHDL語(yǔ)言是常用的一種為FPGA和ASIC設(shè)計(jì)輸入的數(shù)字電路電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化的語(yǔ)言，因此它是與邊界因?yàn)樵S多芯片設(shè)計(jì)掃描是用這種語(yǔ)言進(jìn)行工作相適應(yīng)的。 但是的BSDL是一個(gè)“子集和標(biāo)準(zhǔn)做法”的VHDL，即VHDL語(yǔ)言的范圍，從而對(duì)邊界掃描應(yīng)用受到限制。
設(shè)計(jì)過(guò)程中的BSDL有兩種語(yǔ)言的主要標(biāo)準(zhǔn)：
它很容易使用
它是由計(jì)算機(jī)可解析在一個(gè)簡(jiǎn)單的和毫不含糊的時(shí)尚
BDSL使設(shè)備的使用邊界掃描功能，準(zhǔn)確和有用的說(shuō)明。 BSDL文件是所使用的邊界掃描工具，使設(shè)備的使用功能，使任何測(cè)試性分析測(cè)試程序生成，?故障診斷，以及使用。 的BSDL不是一個(gè)可以用硬件描述語(yǔ)言，相反，它是用來(lái)定義設(shè)備的數(shù)據(jù)傳輸?shù)奶攸c(diǎn)，即它是如何捕獲，轉(zhuǎn)變和更新掃描數(shù)據(jù)。 這才是用于定義測(cè)試能力。
BSDL文件包括以下數(shù)據(jù)：
實(shí)體聲明 ：本實(shí)體聲明是一個(gè)VHDL構(gòu)造，是用來(lái)識(shí)別文件名 的BSDL設(shè)備所描述的。
泛型參數(shù) ：通用參數(shù)是指定哪個(gè)區(qū)段包描述。
邏輯端口說(shuō)明 ：這說(shuō)明列出了設(shè)備的所有連接。 它定義它的基本屬性，即是否連接輸入（以位;），輸出（OUT位;），雙向（inout的位;），或者如果它是不可用的邊界掃描（連鎖位;）。
封裝引腳映射 ：包引腳映射被用于確定一個(gè)集成電路的內(nèi)部連接范圍內(nèi)。 它詳細(xì)介紹了如何在設(shè)備上的墊片裸片連接到外部引腳。
USE語(yǔ)句 ：這句話是用來(lái)調(diào)用BSDL文件VHDL語(yǔ)言包，該數(shù)據(jù)包含在所引用。
掃描端口標(biāo)識(shí) ：掃描端口標(biāo)識(shí)識(shí)別引腳的JTAG執(zhí)行工作/這是用于邊界掃描。 這些措施包括：TDI的，商品說(shuō)明條例，訓(xùn)練管理系統(tǒng)，TCK和TRST的（如果使用）。
測(cè)試訪問(wèn)端口（TAP）說(shuō)明 ：本實(shí)體提供設(shè)備的其他信息的邊界掃描和JTAG邏輯。 這些數(shù)據(jù)包括指令寄存器的長(zhǎng)度，指令操作碼，設(shè)備的IDCODE等.
邊界寄存器描述 ：這說(shuō)明提供器件結(jié)構(gòu)的邊界掃描單元上。 每個(gè)器件引腳上*多可以有三個(gè)邊界掃描單元，每個(gè)單元格組成的一個(gè)寄存器鎖存器和一個(gè)。
BSDL怎樣使用？
當(dāng)電路板的設(shè)計(jì)，邊界掃描兼容設(shè)備被組織成“鏈”。 掃描鏈構(gòu)成了板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試，可以檢測(cè)和診斷引腳層次的結(jié)構(gòu)性缺陷，如開(kāi)路和短路的基礎(chǔ)。 自動(dòng)化工具用于生成測(cè)試方案或議會(huì)的程序。 *重要的投入，這個(gè)過(guò)程是邊界掃描功能的設(shè)備的BSDL文件，以及網(wǎng)表描述板之間的互連的設(shè)備。 生成的測(cè)試程序，當(dāng)應(yīng)用到目標(biāo)板，報(bào)告的結(jié)構(gòu)測(cè)試失敗，可以用來(lái)幫助板維修。
有些工具能夠使用邊界掃描創(chuàng)造集群的組件包括非邊界掃描兼容設(shè)備的測(cè)試模式，和其他工具可以生成測(cè)試模式，一個(gè)板上處理器可以運(yùn)行，以便能夠在高速功能測(cè)試。 這些測(cè)試應(yīng)用程序獨(dú)立或與其他測(cè)試技術(shù)，如在電路，結(jié)合測(cè)試（ICT）的，具有生產(chǎn)以*低的成本*優(yōu)的測(cè)試覆蓋的總體目標(biāo)和*短的測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間。
綜述
邊界掃描描述語(yǔ)言的BSDL，被廣泛用于在IEEE 1149.1 / JTAG的社會(huì)使一致，準(zhǔn)確和有用的資料供邊界掃描功能的設(shè)備定義。 通過(guò)這種方式，該芯片可以被納入一個(gè)設(shè)計(jì)，它的功能用在*有效的方式充分。

邊界掃描器件BSDL描述在測(cè)試中的應(yīng)用

1 引言
“邊界掃描”是一種可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)，即在電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)階段就考慮其測(cè)試問(wèn)題[1]。
BSDL（boundary scan des cription language） 語(yǔ)言硬件描述語(yǔ)言（VHDL）的一個(gè)子集，是對(duì)邊界掃描器件的邊界掃描特性的描述，主要用來(lái)溝通邊界掃描器件廠商、用戶與測(cè)試工具之間的聯(lián)系，其應(yīng)用包括：廠商將BSDL描述作為邊界掃描器件的一部分提供給用戶；BSDL描述為自動(dòng)測(cè)試圖形生成（ATPG）工具測(cè)試特定的電路板提供相關(guān)信息；在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)定義的測(cè)試邏輯 [2]。現(xiàn)在，BSDL語(yǔ)言已經(jīng)正式成為IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)文件的附件。BSDL本身不是一種通用的硬件描述語(yǔ)言，但它可與軟件工具結(jié)合起來(lái)用于測(cè)試生成、結(jié)果分析和故障診斷。每一邊界掃描器件都附有特定的BSDL描述文件，為了論述的方便，本文將以Altera公司的CPLD器件 EPM7128SL84 芯片為例說(shuō)明BSDL描述在測(cè)試中的應(yīng)用。
2 EPM7128SL84芯片的BSDL描述
該器件采用了先進(jìn)的CMOS EEPROM制造工藝，共有84個(gè)引腳，其中包括四個(gè)JTAG測(cè)試引腳 TDI、TMS、TCK和TDO，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)JTAG測(cè)試接口它還可以支持在系統(tǒng)可編程（ISP）。下面首先討論EPM7128SL84的BSDL描述中與應(yīng)用相關(guān)的各基本元素。
2.1 TAP描述
TAP描述說(shuō)明與TAP控制器相關(guān)的特性。TAP 控制器包括4個(gè)或5個(gè)控制信號(hào)，一個(gè)用戶定義的指令集（在IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定范圍內(nèi)）和一些可選擇的數(shù)據(jù)寄存器。EPM7128SL84的 TAP描述有：
（1）attribute INSTRUCTION_LENGTH of EPM7128SL84：entity is 10；
指令長(zhǎng)度（INSTRUCTION_LENGTH）屬性定義了所有操作碼的長(zhǎng)度必須為10位。
（2）attribute INSTRUCTION_OPCODE of EPM7128SL84：entity is
“BYPASS (1111111111)， ”&
“EXTEST ()，”&
“SAMPLE ()，”&
“IDCODE ()”；
指令操作碼（INSTRUCTION_OPCODE）屬性指出器件所支持的指令的二進(jìn)制代碼，如器件標(biāo)志代碼指令I(lǐng)DCODE的位圖形為“” ，所有字串中*右邊的位*靠近TDO。根據(jù)1149.1標(biāo)準(zhǔn)，旁路、外部測(cè)試和采樣指令是強(qiáng)制性的，且旁路指令BYPASS為全“1”串，外部測(cè)試 EXTEST指令為全“0”串。
（3）attribute INSTRUCTION_CAPTURE of EPM7128SL84：entity is ""；
指令捕獲（INSTRUCTION_CAPTURE）屬性說(shuō)明，當(dāng) TAP控制器處于捕獲指令寄存（Capture-IR）狀態(tài)時(shí)，位圖形“”被裝入指令寄存器的移位寄存器部分，當(dāng)送入新指令時(shí)，此位圖形被移出，IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定其*低兩位為“01”，其余位由廠商自行定義，這樣可以保證通過(guò)Capture信號(hào)可以檢測(cè)到掃描鏈上固定為“0”和固定為“1”的故障。
（4）attribute IDCODE_REGISTER of EPM7128SL84：entity is
"0000"&"0111"&""&"1"；
標(biāo)志寄存器屬性描述芯片內(nèi)置在標(biāo)志寄存器里的芯片ID碼。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定芯片ID碼為32位，*右邊的一位是*靠近TDO的。如圖1所示，標(biāo)志寄存器的LSB是IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)制為“1”的*低位，表示器件標(biāo)志寄存器的存在；第1位至11 位是廠商代碼號(hào)“”，這個(gè)代碼表示Altera公司；第12位至27位是芯片型號(hào) “0001”，即十六進(jìn)制“7128”（從右至左）；第28位至31位是芯片版本號(hào)“0000” [2]。

2.2 邊界掃描寄存器描述
這是BSDL整體結(jié)構(gòu)的*重要部分，它描述了邊界掃描單元（BSC）的長(zhǎng)度及每個(gè)BSC的單元號(hào)與屬性。
（1）attribute BOUNDARY_LENGTH of EPM7128SL84：entity is 288；
邊界掃描長(zhǎng)度屬性表示EPM7128SL84 芯片共有 288個(gè)邊界掃描單元。
（2）attribute BOUNDARY_REGISTER of EPM7128SL84：entity is
--num(cell, port, function, safe [ccell, disval, rstl])
"0 (BC_4, IN84, input, X)," &
"1 (BC_4, *, internal, X)," &
"2 (BC_4, *, internal, X)," &
……
"144 (BC_4, IO41, input, X)," &
"145 (BC_1, *, control, 0)," &
"146 (BC_1, IO41, output3, X, 145, 0, Z)," &
……
"279 (BC_4, IO4, input, X)," &
"280 (BC_1, *, control, 0)," &
"281 (BC_1, IO4, output3, X, 280, 0, Z)," &
……
"285 (BC_4, IN1, input, X)," &
"286 (BC_4, *, internal, X)," &
"287 (BC_4, *, internal, X)"；
對(duì)邊界掃描寄存器單元（BSC）屬性的描述由單元號(hào)與4個(gè)或7個(gè)圓括號(hào)內(nèi)的數(shù)據(jù)子段組成，這些BSC的排列順序可以是任意的，但每個(gè)單元都必須被定義。單元號(hào)從0到287 （BOUNDARY_LENGTH－1）進(jìn)行編號(hào)，0單元是*靠近TDO的單元。括號(hào)中數(shù)據(jù)子段的名稱(chēng)為： cell, port, function, safe [ccell, disval, rstl]，后三個(gè)方括號(hào)內(nèi)的可選子段只有在function子段的值為 out put3或bidir時(shí)才被定義。它們的含義如下：
· 單元子段：確定器件所使用的邊界掃描單元。EPM7128SL84芯片采用的BSC類(lèi)型為標(biāo)準(zhǔn)單元 BC_1與BC_4，其屬性已經(jīng)在VHDL組件STD_1149_1_1994中加以定義；
· 通道子段：說(shuō)明與對(duì)應(yīng)BSC相連的系統(tǒng)管腳。其名稱(chēng)與BSDL“logical port des cription”屬性中描述的管腳邏輯名稱(chēng)相一致。“*”表示此BSC 為輸出控制單元或內(nèi)部單元；
·功能子段：表示該BSC的主要功能。EPM7128SL84芯片BSC所涉及的功能有“input”、 “control”，“output3”和“internal”4種；
input：表示一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)現(xiàn)輸入管腳接收的 BSC；
control：表示一個(gè)進(jìn)行輸出使能控制，或輸出驅(qū)動(dòng)與雙向管腳的單元方向控制的BSC；
output3：表示一個(gè)為三態(tài)輸出提供數(shù)據(jù)的 BSC；
internal：表示一個(gè)用于捕獲系統(tǒng)內(nèi)部邏輯的 BSC，它不與任何系統(tǒng)管腳相連；
·**子段：當(dāng)ATPG軟件提供一個(gè)額外隨機(jī)值時(shí)，safe子段定義了一個(gè)要裝入捕獲寄存器CAP 與更新寄存器UPD（如果存在的話）的值，以防止系統(tǒng)邏輯因?yàn)檫^(guò)激勵(lì)信號(hào)等原因造成的錯(cuò)誤連接。這個(gè)值可以是“0”，“1”或“X”。“X”表示 “0”，“1”均可；
·控制單元子段：說(shuō)明對(duì)功能為output3或bidir的BSC進(jìn)行輸出使能控制的控制單元號(hào)；
· 無(wú)效值子段：為禁用對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)管腳，要給由ccell子段指定的控制單元賦的值；
· 無(wú)效狀態(tài)子段：給出被禁用驅(qū)動(dòng)器的狀態(tài)。這個(gè)狀態(tài)可以是高阻態(tài)（Z）、弱“1”態(tài)（weak1）或弱“0”態(tài)（weak0）[2]。
EPM7128SL84 芯片的管腳與邊界掃描單元如圖2所示，與輸入輸出管腳IO41相對(duì)應(yīng)的三個(gè)BSC單元號(hào)分別為144，145和146。
 

3 BSDL描述語(yǔ)言的實(shí)際應(yīng)用
3.1 TAP完整性測(cè)試
指令捕獲（INSTRUCTION_CAPTURE）屬性提供了測(cè)試TAP完整性的一條途徑。TAP完整性測(cè)試可以檢測(cè)時(shí)鐘TCK和模式選擇TMS的輸入端連接是否正確，所提供的有關(guān)信號(hào)是否正常；數(shù)據(jù)輸入TDI 和數(shù)據(jù)輸出TDO端的連接是否正確，且輸入和輸出的功能是否正常；內(nèi)部的指令寄存器工作是否正常；內(nèi)部的邊界掃描寄存器工作是否正常。TAP完整性測(cè)試是進(jìn)行邊界掃描其他任何測(cè)試之前建議首先進(jìn)行的測(cè)試操作，以確保邊界掃描鏈能正常工作。
TAP完整性測(cè)試的過(guò)程如圖3所示。在TAP的 Shift-IR狀態(tài)，指令捕獲位圖形已加載至指令寄存器的移位寄存器部分，直接從TDO移出數(shù)據(jù)并與各芯片的Capture位圖形比較，若數(shù)據(jù)一致則 TAP完整性測(cè)試通過(guò)。
 

3.2 芯片ID碼的檢測(cè)
芯片ID碼是識(shí)別芯片的內(nèi)建器件標(biāo)識(shí)碼，通過(guò)檢測(cè)芯片ID碼可以識(shí)別該芯片，判斷芯片裝配正確與否，并可進(jìn)一步判斷芯片的型號(hào)、生產(chǎn)廠家及版本號(hào)與其標(biāo)識(shí)是否相符，辨別芯片的真?zhèn)巍．?dāng)TAP進(jìn)入Test-Logic-Reset狀態(tài)時(shí)，若標(biāo)志寄存器存在，則被強(qiáng)制接入TDI與TDO之間，寄存器LSB的值為“1”，否則，旁路寄存器被接入TDI與TDO之間，寄存器的值為“0”。所以，在檢測(cè)芯片標(biāo)志寄存器的值時(shí)，可以由復(fù)位狀態(tài)直接進(jìn)入移位數(shù)據(jù)狀態(tài)，輸出TDO的值，并判斷其**位是否為“1”，若是，則此芯片有標(biāo)準(zhǔn)寄存器存在，可繼續(xù)移出其他31位，并進(jìn)行判斷與顯示。檢測(cè)流程如圖4所示。我們?cè)趯?duì)芯片EPM7128SL84進(jìn)行ID標(biāo)識(shí)碼檢測(cè)時(shí)，用邏輯分析儀采集到的TDO端的輸出波形如圖5所示，與BSDL描述中的ID碼一致，說(shuō)明器件正確。

3.3 邊界掃描互連測(cè)試
我們?cè)陂_(kāi)發(fā)邊界掃描測(cè)試軟件過(guò)程中，設(shè)計(jì)制作了基于邊界掃描機(jī)制的試驗(yàn)電路板當(dāng)作診斷實(shí)驗(yàn)對(duì)象。其中兩塊 EPM7128SL84芯片間的有16個(gè)互連網(wǎng)絡(luò)，分別是兩芯片的4～12管腳之間、33～41管腳之間的互連（除去7腳地線，38腳電源線）。在進(jìn)行互連測(cè)試時(shí)，首先要構(gòu)造一個(gè)16×16的測(cè)試矩陣，然后將此矩陣的16個(gè)列向量分別加載到芯片1的IO4～ IO12，IO33～I(xiàn)O41管腳（除去7腳和38腳），然后執(zhí)行外部測(cè)試指令。由芯片2捕獲對(duì)應(yīng)管腳上的信號(hào)，形成響應(yīng)向量，全部16個(gè)列向量分別加載捕獲完成后，再對(duì)響應(yīng)矩陣進(jìn)行故障診斷 [3]，如圖6所示。在此測(cè)試過(guò)程中，對(duì)芯片1的IO管腳加載的向量數(shù)據(jù)必須定位到每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)的三態(tài)輸出單元，即芯片1的 281，278，275，269，263，260， 257，251，179，173，167，164，161，155，149，146單元；而芯片2所捕獲的對(duì)應(yīng)管腳上的信號(hào)，在執(zhí)行采樣指令之后，都被置入每個(gè)管腳對(duì)應(yīng)的輸入單元，即芯片2的279，276，273，267， 261，258，255，249，177，171，165，162，159，153，147，144單元。這樣，從TDO輸出的對(duì)應(yīng)單元的數(shù)據(jù)就組成了響應(yīng)矩陣，對(duì)響應(yīng)矩陣按照一定的算法進(jìn)行分析，便可檢測(cè)出呆滯、短路、開(kāi)路與橋接故障。
 

4 結(jié)束語(yǔ)
以上所述測(cè)試流程均用C++ Builder編程實(shí)現(xiàn)，能對(duì)基于邊界掃描機(jī)制的試驗(yàn)電路板進(jìn)行準(zhǔn)確、可靠的測(cè)試。試驗(yàn)證明，在邊界掃描各項(xiàng)測(cè)試中，對(duì)BSDL描述信息進(jìn)行有效的編譯提取，對(duì)測(cè)試的成功實(shí)現(xiàn)至關(guān)重要。但器件的BSDL描述必須嚴(yán)謹(jǐn)、確切，所以，在下一步的軟件完善中，將加入BSDL 文件的數(shù)據(jù)完整性檢查，以防止錯(cuò)誤數(shù)據(jù)損壞被測(cè)對(duì)象。
 

BSDL文件

常用BSDL文件鏈接：
Texas Instruments
Intel
Freescale Semiconductor
National Semiconductor
Altera、Xilinx
Lattice
AMD
Analog Devices
PMC Sierra
ACTEL
ATMEL
Dallas/Maxim
IDT
Tundra
QuickLogic
Music
Silicon Laboratories
Zarlink