簡單介紹
ZNTEKPS6X系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術.可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離.
產品描述
一 產品簡介
雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,遇到被測介質表面,其部分
能量被反射回來,被同**線接收.發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離
成正比.由于電磁波的傳播速度極高,發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認.
ZNTEKPS6X系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術.可以準確識別發射脈沖與接收脈沖
的時間間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離.
ZNTEKPS61
應用:液體特別是腐蝕性液體,簡單過程條件.
*大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:G1½A
天線材料:PP/PTFE
過程溫度:-40…120°C
過程壓力:-1.0…3bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制 4…20mA/HART
ZNTEKPS62
應用:液體特別是腐蝕性強的,又有一定溫度壓力的
條件下的液體,簡單過程條件.
*大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:PTFE翻邊法蘭
天線材料:PTFE
過程溫度:-40…150°C
過程壓力:-1.0…16bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
ZNTEKPS63
應用:存儲容器或過程容器,過程條件復雜.
*大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:法蘭316L
天線材料:不銹鋼316L /PTFE
過程溫度:-40…200°C
過程壓力:-1.0…40bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
ZNTEKPS64
應用:存儲容器或過程容器,過程條件復雜.
*大量程:70m
測量精度:±20mm
過程連接:法蘭316L
天線材料:不銹鋼316L /PTFE
過程溫度:-40…200°C
過程壓力:-1.0…40bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
ZNTEKPS65
應用:液體,特別適合強腐蝕性液體
*大量程:10m
測量精度:±5mm
天線結構:全密封四氟,防輕微凝結物
過程溫度:(-40~130) °C
過程壓力:(-0.1~0.3)MPa
頻率范圍:26GHz
信號輸出:(4~20)mA/HART
電 源:兩線制/四線制
雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,遇到被測介質表面,其部分
能量被反射回來,被同**線接收.發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離
成正比.由于電磁波的傳播速度極高,發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認.
ZNTEKPS6X系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術.可以準確識別發射脈沖與接收脈沖
的時間間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離.
ZNTEKPS61
應用:液體特別是腐蝕性液體,簡單過程條件.
*大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:G1½A
天線材料:PP/PTFE
過程溫度:-40…120°C
過程壓力:-1.0…3bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制 4…20mA/HART
ZNTEKPS62
應用:液體特別是腐蝕性強的,又有一定溫度壓力的
條件下的液體,簡單過程條件.
*大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:PTFE翻邊法蘭
天線材料:PTFE
過程溫度:-40…150°C
過程壓力:-1.0…16bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
ZNTEKPS63
應用:存儲容器或過程容器,過程條件復雜.
*大量程:30m
測量精度:±10mm
過程連接:法蘭316L
天線材料:不銹鋼316L /PTFE
過程溫度:-40…200°C
過程壓力:-1.0…40bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
ZNTEKPS64
應用:存儲容器或過程容器,過程條件復雜.
*大量程:70m
測量精度:±20mm
過程連接:法蘭316L
天線材料:不銹鋼316L /PTFE
過程溫度:-40…200°C
過程壓力:-1.0…40bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4…20mA/HART
ZNTEKPS65
應用:液體,特別適合強腐蝕性液體
*大量程:10m
測量精度:±5mm
天線結構:全密封四氟,防輕微凝結物
過程溫度:(-40~130) °C
過程壓力:(-0.1~0.3)MPa
頻率范圍:26GHz
信號輸出:(4~20)mA/HART
電 源:兩線制/四線制
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