設(shè)備的主要技術(shù)指標(biāo)

1、溫度范圍：（RT+10）~ 55℃±2℃

2、溫度波動(dòng)度：±0.5℃

3、濕度：30~98%RH，⁺²_-3%RH

4、鹽霧沉降量：1~2ml/80cm².h

5、常溫干燥、濕熱、強(qiáng)制干燥、浸漬、鹽霧周期：1m~999.9h

6、試樣板安裝角度：15⁰~30⁰
 

該設(shè)備的外殼和內(nèi)膽采用玻璃鋼整體模壓成型或耐腐蝕性的上等不銹鋼板，用戶(hù)可以根據(jù)自己的需要進(jìn)行選擇，箱內(nèi)加熱采用耐腐蝕性能極強(qiáng)的鈦加熱管，具有加熱效果好，使用時(shí)間長(zhǎng)等特點(diǎn)。主控制儀采用智能數(shù)顯溫度控制器，具備PID自調(diào)節(jié)控制，控制精度高，操作簡(jiǎn)單易懂。

對(duì)噴霧用壓縮空氣進(jìn)行飽和處理，確保試驗(yàn)環(huán)境條件穩(wěn)定，并有效防止噴嘴阻塞。

透明玻璃觀察窗，結(jié)合除霧裝置，方便試驗(yàn)過(guò)程中對(duì)試驗(yàn)的清晰觀察。

完善的保護(hù)功能（缺水、超濕、過(guò)載等）并裝置有聲訊、報(bào)警、停機(jī)功能。

設(shè)備的用途

該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，以及各類(lèi)金屬材料及其防護(hù)層在含鹽的潮濕環(huán)境下使用或貯存的適應(yīng)性。可以做腐蝕試驗(yàn),也可以檢驗(yàn)非金屬材料受鹽霧影響而造成的劣化,還可用于考核元器件和設(shè)備在鹽霧環(huán)境下的性能變化。
該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在人工模擬的海洋性氣候（鹽霧）條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

該設(shè)備是以下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)制造

GB/T 2423.17-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法

GB/T 10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧

GB/T1771-1991 色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測(cè)定

GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)
     GB/T12000-2003 塑料暴露于濕熱、水噴霧和鹽霧中影響的測(cè)定

GB 10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GJB 4.11-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 鹽霧（Ka）

SC/T 7002.6-1992 船用電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 鹽霧（Ka）

SC/T 7002.7-1992 船用電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 交變鹽霧（Kb）

GJB150.11-1986 **設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)

服務(wù)承諾

1．免費(fèi)上門(mén)安裝調(diào)試、培訓(xùn)操作人員。

2．產(chǎn)品自交付用戶(hù)使用之日起包修壹年，但下述情況除外：

a.需方操作失誤，出現(xiàn)人為故障和損壞；

b.其它不應(yīng)由供貨方承受的情況

3. 包修期滿(mǎn)后提供有償服務(wù)。

設(shè)備的**保護(hù)裝置

1．  電源超載、短路保護(hù)

2．  接地保護(hù)

3．  超溫保護(hù)

4．  缺水保護(hù)

5．  為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

     GJB 715.1-1989 緊固件試驗(yàn)方法 鹽霧

     QJ2027-1990 金屬鍍覆層耐鹽霧試驗(yàn)方法