德國EPK(Elektrophysik)公司涂渡層測厚儀MiniTest4100特點：
可使用一片或二片標準箔校準，可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機。
MiniTest4100涂層測厚儀功能
存儲的數據量:
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數):99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，并可設寬容度極限值)：99
可用各自的日期和時間標識特性的組數:500
數據總量:10000
統計計算功能:
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
其他功能：
設置極限值
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
連續測量模式中顯示*小值
MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端
分辨率 | 誤差 | *小曲率
半徑(凸/凹) | *小測量
區域直徑 | *小基
體厚度 | 探頭尺寸 |
磁
感
應
法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm |
兩
用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm
N50μm | φ21x89mm |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm |
電
渦
流
法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
MiniTest涂層測厚儀探頭圖示
| FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
| FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
|
| F050～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
|
| F1.60～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
| F30～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
|
| F1.6/900～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
| F100～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
|
| F200～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
|
| F500～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
|
| N020～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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| N0.8Cr0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
|
| N1.60～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
| N1.6/900～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
|
| N100～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|
| N200～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
|
| N1000～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| CN0210～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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