• 透明法和 X 射線攝影• 電離和劑量學• X 射線隨不同物質和厚度的衰減• 研究 X 射線源的連續和特征譜線• 特征譜線和它們的精細結構• 原子的精細結構和殼層模型• 與能量有關的吸收和 K 連緣• Moseley （莫塞萊）定律和測定 Rydberg （里德堡）頻率• Comptom （康普頓）效應• Duane-Hunt 關系從極限波長測定 Planck ( 普朗克常數 )• 用于測定個中晶體晶面間隔的 Bragg( 布拉格 ) 反射• 通過 Laue ( 勞厄 ) 相和 Debye-Scherrer ( 德拜－施拉 ) 攝像術研究晶體結構• 在多晶金屬箔和粉末樣品上進行 X 射線衍射，分析晶體結構• 利用 X 射線進行材料分析