J.A.Woollam光譜型橢偏儀電源維修M-2000XI
M-2000系列光譜橢圓儀是為滿足薄膜表征的需求而設計的。RCE技術結合了旋轉補償器橢圓儀和CCD檢測，在幾分之一秒內收集整個光譜（數百個波長），并有多種配置。擅長于從原位監測和過程控制到大面積均勻性繪圖和通用薄膜表征的橢偏儀。光譜檢測RCE設計與CCD檢測兼容，可同時測量波長。光譜范圍采集從紫外線到近紅外的700多個波長同時采集。 適合直接連接到您的工藝室或配置在我們的桌面底座上，進行準確的橢圓測量。
美國J.A.Woollam光譜橢圓儀電源維修；M-2000旋轉補償橢偏儀高壓發生器維修。
應用范圍材料：半導體、電介質、聚合物、金屬、多層等。
可選光譜范圍：
V型 370－1000nm
U型 245－1000nm
D型 193－1000nm
紅外擴展 1000－1700nm
可選變角：手動連續可變；自動連續可變
微光斑選件：25×60微米
光譜型橢偏儀維修類型如下：
1、M-2000 光譜型橢偏儀
無論是科研還是工業生產，M-2000都可以滿足您的需求，多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉補償技術確定Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內完成。
2、Alpha-SE 光譜型橢偏儀
α-SE是一款高性價比的光譜型橢偏儀。簡約設計，理想的薄膜分析工具。計算機通過通訊口控制儀器、數據采集。配置易用的數據分析軟件，易于使用，帶有選項的按鈕式操作軟件技術，基于旋轉補償技術，十秒內完成180個波長的測量及數據的擬合 功能強 提供厚度、光學常數、表面粗糙、界面層等數據應用范圍，適用于可見光譜段薄膜的研究及日常工藝控制。