發(fā)電機(jī)絕緣電阻漏電電流及直流耐壓試驗  　
　發(fā)電機(jī)絕緣電阻漏電電流及直流耐壓試驗  　  　 　
 
    直流泄漏的測量和絕綴電巴口量在原理上是一致的，所不同99是前者所加電壓較高，所以泄漏試驗S進(jìn)一步發(fā)掘絕緣缺陷。
    在直流耐壓試驗過程中可同時測量泄漏電流，井從電壓—電流曲線中觀察絕緣狀態(tài)。在大多數(shù)搞況下，可以在絕緣尚未擊穿前就能發(fā)現(xiàn)或找出缺陷。直流試驗時，發(fā)電機(jī)定于繞組絕緣是按照電阻分壓的，因而能較工顛耐壓更有效地發(fā)現(xiàn)端部缺陷和間隙性缺陷。另外，擊穿時對絕緣的損傷程度較小，所得試驗設(shè)備容量也小。由于以上優(yōu)點，直流試驗已成為發(fā)電機(jī)繞組絕緣試驗中普遍采用酌方法。
(一)試驗電壓規(guī)程翅定，定子繞組直流試驗電壓如下
    (1)全部更換定子繞組并修好后為3．o(入(發(fā)電機(jī)額定電壓)l
    (2)局部更換定于繞組井修好后為2．5隊；
    (3)大修前，運(yùn)行20年及以下為2．5D*；運(yùn)行20年以上與架空線直接連接為2．5隊，運(yùn)行20年以上不與架空線直接連接為2．D一2．礬，
    (4)小修時和大修后為2．凹。。
    (＝)試巴接戰(zhàn)
    直流泄漏試驗及直流耐壓試驗的接線如圖2—2—l 7所示。*好將微安表擺在高壓墻，并加以屏蔽，以免強(qiáng)電場雜散電流的干擾，如圖2—217(a)所示。但要注意微安表在試驗過程中的短接與換檔操作時，都必須通過足夠絕緣水平的操作扦進(jìn)行，或用光電遏控裝置操作。如果說條件所限達(dá)不到上述要求時，可采用圖2—2—17(b)的接線。    ‘
    為了檢查試驗設(shè)備的絕緣是否良好，接線是否正確，在試驗前應(yīng)空載分段(按試驗要求先段)加壓。每段加壓維持時間和帶鎮(zhèn)試品試驗時相同．讀取各分段空載泄漏電流。如果在*大試驗電壓時泄獺電流只有1—2pA，則可忽略不計；但當(dāng)微安數(shù)較大時，要在測試時相對應(yīng)的分段泄漏電流內(nèi)分別扣除。空蘊(yùn)試驗時應(yīng)加穩(wěn)壓電容(**o．5FF)．以保證在乎穩(wěn)的直記挾形下進(jìn)行空載泄漏電流酸量，否則會帶來很大誤差。
    對于攫量電蓖貉別大的發(fā)電視，必須在高壓倒測量電壓，對于泄鐮電魔小的發(fā)電機(jī)，如用低壓例電壓值換算到高壓憾電壓時，應(yīng)注意不能用電阻調(diào)壓。(累)試穆分針判l(wèi)lr
1．“進(jìn)霸電淹—電壓”曲錢
    直流耐壓試驗時，每分段電壓取o．5t／．為宜。整個試驗電壓分段*好不少于五段p每段停留1m％選取泄漏電流，各段升壓速度應(yīng)相等。繪制泄漏電流和電壓關(guān)系曲線。如圖2—2—5所示。著相鄰階段電壓、泄漏電沉隨電壓不成比例上升起過20％，表明絕緣受潮嚨臟污。
    2—泄漏電沈變化
    企規(guī)定試驗電壓下，各相泄漏電流的差別不應(yīng)大于*小值的100％。*大泄福電流在20PA以下者，相間差值與歷次試驗結(jié)果比較，不應(yīng)有顯著變化。若各相泄漏電流差超過30％，但充電現(xiàn)象還正常，說明其缺陷部位遠(yuǎn)離鐵蘇端部，或套管破污。
    3r泄漏電沈隨時間的增長
    泄漏電流隨時間的增長而升高，緣分層、松弛或期氣浸入絕緣內(nèi)部。
    4．泄漏電沈劇裂擺動說明有高阻性缺陷和絕
    若電壓升高到萊一階段，泄漏電流出現(xiàn)劇烈擺動，表明絕緣有斷裂性缺陷，大??分在櫻口或端部絕緣窩地近處，或出線套管有裂紋等。
    5．充電現(xiàn)象不明顯
    無充電現(xiàn)象，或充電現(xiàn)象不明顯，泄漏電流增大，這種現(xiàn)象大多是由于受閹、嚴(yán)重臟污或明顯貫穿性缺陷所造成。