SXJS-II全自動抗干擾介質損耗測試儀 SXJS-II
產品簡介
本儀器是一種先進的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優點，是我廠的第三代智能化介質損耗測試儀。
產品詳細信息
◆ 抗干擾介質損耗測試儀操作簡單、中文顯示、打印
◆ 使用方便、無需換算
◆ 自帶高壓，抗干擾能力強、測試時間短等優點
◆ 采用變頻技術，保證在強電場干擾下準確測量
◆ 采用中文菜單操作，微機自動完成完全過程的測量
◆ 可正、反接線方法測量不接地或直接接地的高壓電器設備
◆ 內部裝備了高壓升壓變壓器，并采取了過零合閘、防雷擊等**保護措施
◆試驗環境溫度：10℃～30℃（LCD液晶屏應避免長時間日照）
◆相對濕度：20%～80%
◆供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz
◆外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm
◆重量：18kg
◆輸出功率：1.5KVA
◆顯示分辨率：3位、4位（內部全是6位）
◆測試方法：正接法、反接法、外接試驗電壓法
◆測量范圍：內接試驗電壓：tgδ：99.9%
Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF
10KV Cx＜60000 pF
5KV Cx＜80000 pF
2.5KV Cx＜0.3uF
外接試驗電壓：由外接試驗變壓器輸出功率而定
◆ 基本測量誤差：介質損耗（tgδ）：1%±0.09%
電容容量（Cx）：1.5%±1pF
◆ 分辨率： tgδ：0.01% Cx ：0.1pF
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